Пособие включает разделы метрологии, посвященные обеспечению единства измерений характеристик материалов электронной техники. В пособии изложены основные положения теории случайных ошибок, описаны способы статистической обработки результатов измерений и оценки показателей точности методик, содержатся практические рекомендации по метрологическому надзору за измерительной аппаратурой; а также приведены примеры по решению практических задач метрологии и для разъяснения основных метрологических терминов и определений. Пособие призвано способствовать формированию у студентов знаний в области контроля качества материалов электронной техники.
Категория: учебно-методические пособия
Правообладатель: МИСиС
Год: 2001
Легальная стоимость: 588.00 руб.
Ограничение по возрасту: 0+
Комментарии ():